晶体测量

　　晶体测量（goniometry）又称“晶体测角”。是指测量晶体各晶面间的夹角以恢复晶体几何形态的一种方法。晶体测量的主要仪器是双圈反射测角仪。

　　释义

　　晶体测量（goniometry）又称“晶体测角”。测量晶体各晶面间的夹角以恢复晶体理想几何形状的一种方法。晶体测量的仪器是晶体测角仪。所测晶体要求晶面发育良好。根据测得的数据先作出极射赤平投影图或心射极平投影图,确定对称要素和单形,经过计算求出晶面符号和轴率,最后绘成晶体的顶视图和立体图。

　　测量方法

　　晶体测量的主要仪器是双圈反射测角仪。所测晶体大小以2—5毫米最为合适，晶面要求平滑，有光泽。根据测得数据先作出极射赤平投影图或心射极平投影图，确定对称要素和单形，经过计算求出晶面符号和轴率，最后绘成晶体的顶视图和立体图。晶体几何形态的研究对于晶体结构分析及其形成条件的探讨有一定的意义。对于晶形发育良好的未知矿物，晶形测量也可为精确鉴定矿物提供基本数据。

　　本词条内容贡献者为:

　　杨刚 - 教授 - 西南大学